Marko Erman

Pays :France
Langue :français
Note :
Docteur ès sciences physiques (Paris 6, 1986)
ISNI :ISNI 0000 0003 6209 2214

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  • L'Ellipsométrie spectroscopique à haute résolution latérale

    modélisation, application aux surfaces, interfaces et puits quantiques dans les matériaux semiconducteurs III-V

    Description matérielle : 1 microfiche
    Édition : Grenoble 2 : ANRT , 1986

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37597364t]

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Sources de la notice

  • L'ellipsométrie spectroscopique à haute résolution latérale : modélisation, application aux surfaces, interfaces et puits quantiques dans les matériaux semiconducteurs III-V / Marko Erman, 1986 [thèse]

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