Leonard C. Feldman

Pays :États-Unis
Langue :anglais
Note :
Physicien. - En poste aux AT&T Bell laboratories, USA (en 1986)
ISNI :ISNI 0000 0000 8357 2821

Ses activités

Auteur du texte2 documents

  • Fundamentals of surface and thin film analysis

    Description matérielle : XVIII-352 p.
    Description : Note : Bibliogr. à la fin de chaque chap. Index
    Édition : New York ; Amsterdam ; London : North-Holland , 1986
    Auteur du texte : James W. Mayer

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37355660m]
  • Materials analysis by ion channeling

    submicron crystallography

    Description matérielle : IXX-300 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 235-295. Index
    Édition : New York ; london ; Paris [etc.] : Academic press , cop. 1982
    Auteur du texte : James W. Mayer, S. Thomas Picraux

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb373719094]

Éditeur scientifique1 document

Pages dans data.bnf.fr

Auteurs reliés

Cette page dans l'atelier

Sources et références

Voir dans le catalogue général de la BnF

Sources de la notice

  • Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer, 1986

Pages équivalentes