Michel Lannoo

Pays :France
Langue :français
Note :
Écrit aussi en anglais
Physicien. - Spécialiste des semiconducteurs. - En poste au Laboratoire d'étude des surfaces et interfaces, physique des solides, Institut supérieur d'électronique du Nord, Lille (en 1981)
ISNI :ISNI 0000 0001 0907 3861

Ses activités

Auteur du texte5 documents

  • Atomic and electronic structure of surfaces

    theoretical foundations

    Description matérielle : XII-256 p.
    Description : Note : Notes bibliogr. Index
    Édition : Berlin ; New York ; Paris [etc.] : Springer , cop. 1991
    Auteur du texte : Paul Friedel

    disponible en Haut de Jardin

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb373745041]
  • Nanostructures

    theory and modeling

    Description matérielle : xiv, 304 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 281-297. Index
    Édition : Berlin ; New York : Springer , cop. 2004
    Auteur du texte : Christophe Delerue

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb391523275]
  • Point defects in semiconductors Volume II

    Experimental aspects

    Description matérielle : XVI-295 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 271-279. Index
    Édition : Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer-Verlag , cop. 1983
    Auteur du texte : Jacques Bourgoin
    Préfacier : G. D. Watkins

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37370663v]
  • Point defects in semiconductors

    Description matérielle : vol.
    Édition : Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer , 1981-
    Auteur du texte : Jacques Bourgoin

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37329476s]
  • Point defects in semiconductors Volume I

    Theoretical aspects

    Description matérielle : XVII-265 p.
    Description : Note : Notes bibliogr. Index
    Édition : Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer , 1981
    Auteur du texte : Jacques Bourgoin
    Préfacier : Jacques Friedel (1921-2014)

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb373706139]

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Auteurs reliés

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Sources et références

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Sources de la notice

  • Point defects in semiconductors : theoretical aspects / M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel, 1981

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