Yvon Pastol

Pays :	France
Langue :	français
Note :	Titulaire d'un doctorat d'université en physique des solides (Paris 7, 1987)
ISNI :	ISNI 0000 0003 6101 3430

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Etude de la cristallisation en phase solide de couches minces de silicium implantées
Description matérielle : 1 microfiche
Édition : Grenoble 2 : ANRT , 1987
[catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37608702x]

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Etude de la cristallisation en phase solide de couches minces de silicium implantées / Yvon Pastol, 1987 [thèse univ.]

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