Way Kuo

Langue :anglais
Note :
Spécialiste en microélectronique. - En poste : Texas A&M university, College station (en 1998)
ISNI :ISNI 0000 0001 1059 9844

Ses activités

Auteur du texte5 documents

  • Fiabilité de l'énergie renouvelable et nucléaire

    protection environnementale et sécurité

    Description matérielle : 1 vol. (221 p.)
    Description : Note : Bibliogr. p. 215
    Édition : London : ISTE editions , impr. 2015

    disponible en Haut de Jardin

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb44293345r]
  • Optimal reliability modeling

    principles and applications

    Description matérielle : XVI-544 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 513-538. Index
    Édition : New York : Wiley , cop. 2003
    Autre auteur du texte : Ming J. Zuo

    disponible en Haut de Jardin

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb39037621j]
  • Critical reflections on nuclear and renewable energy

    environmental protection and safety in the wake of the Fukushima nuclear accident

    Description matérielle : 1 online resource
    Description : Note : Includes bibliographical references and index
    Description based on print version record and CIP data provided by publisher.
    Édition : Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons , 2014

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb446550876]
  • Importance measures in reliability, risk, and optimization

    principles and applications

    Description matérielle : 1 online resource
    Description : Note : Includes bibliographical references and index
    Print version record and CIP data provided by publisher.
    Édition : Chichester, West Sussex, United Kingdom : Wiley , 2012

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb44653209g]
  • Reliability, yield, and stress burn-in

    a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development

    Description matérielle : XXVI-394 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. [333]-361. Index
    Édition : Boston ; Dordrecht ; London : Kluwer academic publ. , cop. 1998
    Autre auteur du texte : Wei-Ting Kary Chien, Tae-Ho Kim

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb375359909]

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Sources et références

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Sources de la notice

  • Reliability, yield, and stress burn-in : a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development / by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim, 1998
  • LCNA (CD), 1996-06

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