Manoj Sachdev

Langue :anglais
Note :
En poste : University of Waterloo, Canada (en 2007)
ISNI :ISNI 0000 0001 1669 5685

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Auteur du texte2 documents

  • Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits

    2nd ed.
    Description matérielle : 1 online resource
    Édition : Guildford : Springer London ; Boulder : NetLibrary, Inc. [distributor]
    Autre : José Pineda de Gyvez

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb446427876]
  • Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits

    2nd ed.
    Description matérielle : 1 vol. (XXI-328 p.)
    Édition : Dordrecht : Springer , cop. 2007
    Auteur du texte : José Pineda de Gyvez

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb410508256]

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Sources et références

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Sources de la notice

  • Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / by Manoj Sachdev and José Pineda de Gyvez, cop. 2007

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