Zhong Lin Wang

Langue :anglais
Note :
Physicien. - En poste : School of materials science and engineering, Georgia institute of technology, Atlanta (en 1995)
Autres formes du nom :Chung-lin Wang
Zhonglin Wang
ISNI :ISNI 0000 0001 1690 1872

Ses activités

Éditeur scientifique3 documents

  • Handbook of microscopy for nanotechnology

    Description matérielle : XX-731 p.
    Description : Note : Bibliogr. en fin de chapitre. Index
    Édition : Boston : Kluwer Academic Publishers , cop. 2005
    Éditeur scientifique : Nan Yao

    disponible en Haut de Jardin

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb39966417p]
  • Characterization of nanophase materials

    Description matérielle : XVII-406 p.
    Description : Note : Notes bibliogr. en fin de chapitre. Index
    Édition : Weinheim : Wiley-Vch , cop. 2000

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37738186x]
  • Handbook of nanophase and nanostructured materials

    Description matérielle : 4 vol. (XX-355, XXI-396, XIX-405, XXI-338 p.)
    Description : Note : Notes bibliogr. à la fin de chaque chap. Index
    Édition : New York : Kluwer Academic/Plenum publ. , cop. 2003
    Éditeur scientifique : Yi Liu, Ze Zhang (1953-....)

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb39129996q]

Auteur du texte3 documents

  • Elastic and inelastic scattering in electron diffraction and imaging

    Description matérielle : XXVII-448 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 433-441. Index
    Édition : New York ; London : Plenum press , cop. 1995

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb374723076]
  • Functional and smart materials

    structural evolution and structure analysis

    Description matérielle : XXIII-514 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 497-506. Index
    Édition : New York ; London : Plenum press , cop. 1998
    Autre auteur du texte : Zhen Chuan Kang

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37530782x]
  • Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

    Description matérielle : XIX-436 p.
    Description : Note : Bibliogr. p. 419-430. Index
    Édition : Cambridge ; New York ; Melbourne : Cambridge university press , cop. 1996

    [catalogue][https://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37751330k]

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Auteurs reliés

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Sources et références

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Sources de la notice

  • Elastic and inelastic scattering in electron diffraction and imaging / Zhong lin Wang, 1995
  • LCNA (CD), 1996-06

Autres formes du nom

  • Chung-lin Wang
  • Zhonglin Wang

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