Yao Hua Yang

Langue :français
Note :
Titulaire d'un doctorat d'université en sciences des matériaux (Grenoble, Institut national polytechnique, 1987)
ISNI :ISNI 0000 0000 0169 8851

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  • Croissance du silicium polycristallin à basse température assistée par laser excimère

    caractérisation in-situ par ellipsométrie

    Description matérielle : 1 microfiche
    Édition : Grenoble 2 : ANRT , 1987

    [catalogue][http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37610781b]

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Sources de la notice

  • Croissance du silicium polycristallin à basse température assistée par laser excimère : caractérisation in-situ par ellipsométrie / Yao Hua Yang, 1987 [thèse univ.]

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